1002-半導體元件及材料特性分析-26005

報名期間：從 即日起 到 無限期
上課期間：從 2012-02-06 到 2012-07-31

• Lecture 1 : Introduction
• Lecture 2 : MOCVD
• Lecture 3 : MBE
• Lecture 4 : MBE growth and RHEED (part I)
• Lecture 4 : MBE growth (part II)
• Lecture 4 : RHEED
• Lecture 5 : XRD (Part I)
• Lecture 5 : XRD (part II)
• Lecture 5 Reference : thickness measurement
• Lecture 5 Reference : dislocation
• Lecture 6 : OM and AFM
• XRD reference : GaN dislocation analysis thesis
• XRD reference : InN paper
• Lecture 7 : SEM
• Lecture 8 : PL and CL
• Lecture 9 : SIMS
• PL radaiative lifetime reference
• Lecture 10 : Electrical characterization
• Hall measurement reference